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GB/T 47239.9-2026半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第9部分：一晶体管一电阻式（1T1R）电阻存储单元性能测试方法
| 发布用户：筑灵网 | 发布时间：2026-06-11 |
| 文件类别：正版文档 |
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GB/T 47239.9-2026半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第9部分：一晶体管一电阻式（1T1R）电阻存储单元性能测试方法（下载时遇到问题请联系客服+V：a18232179)