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GB/T 42709.3-2026半导体器件 微电子机械器件 第3部分：拉伸试验用薄膜标准试验片
| 文件类别：正版文档 | |
| 发布时间：2026-06-11 |
资料描述：
GB/T 42709.3-2026半导体器件 微电子机械器件 第3部分：拉伸试验用薄膜标准试验片（下载时遇到问题请联系客服+V：a18232179)