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GB/T 48168-2026半导体器件基于感性负载开关应力的氮化镓（GaN）晶体管可靠性试验方法

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文件类别：正版文档
发布时间：2026-11-09

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资料描述：
GB/T 48168-2026半导体器件基于感性负载开关应力的氮化镓（GaN）晶体管可靠性试验方法