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GB/T 42709.8-2026半导体器件微电子机械器件第8部分：带状薄膜拉伸特性测量的弯曲试验方法

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发布时间：2026-11-09

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GB/T 42709.8-2026半导体器件微电子机械器件第8部分：带状薄膜拉伸特性测量的弯曲试验方法